Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ

Криштал М.М.

Издательство: Техносфера, 2009 г.
Твердая обложка, 208 стр.
ISBN 978-5-94836-200-7
Тираж: 1500 экз.
Формат: 60x100/16

рейтинг: 0 + - −

цена:
6.8 белорусских рублей

Нет на складе

От издателя

Книга посвящена вопросам практического применения сканирующей (растровой) электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. В первой части описаны основные принципы и устройства, используемые в сканирующей электронной микроскопии. При этом изложен минимум информации, необходимый для понимания возможностей этого метода, правильной постановки задач для сканирующей электронной микроскопии и интерпретации результатов исследований. Во второй части подробно разобрано и систематизировано более 50 примеров практического применения сканирующей электронной микроскопии с рентгеноспектральным микроанализом. Большинство примеров относится к деятельности заводской лаборатории и иллюстрирует решения практических задач. Также приведены примеры решения исследовательских задач. Все примеры подобраны таким образом, чтобы дать наиболее полное представление о типах задач, решаемых с помощью сканирующей электронной микроскопии, о подходах к их решению и общей методологии.